上海伯東客戶(hù)某具有 20年集成電路芯片設(shè)計(jì)生產(chǎn)的半導(dǎo)體公司, 采購(gòu) inTEST ATS-545-M 高低溫測(cè)試機(jī)用于工業(yè)級(jí)通用微控制器 MCU 的高低溫測(cè)試, 微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)用于手機(jī), 打印機(jī), 工業(yè)控制, 醫(yī)療設(shè)備, 汽車(chē)電子以及智慧家庭等領(lǐng)域. 其中, 汽車(chē)是 MCU 最大的應(yīng)用市場(chǎng), 傳統(tǒng)汽車(chē)單車(chē)會(huì)平均用到 70個(gè)左右, 而新能源汽車(chē)則需要用到 300多個(gè), 應(yīng)用領(lǐng)域包括 ADAS, 車(chē)身, 底盤(pán)及安全, 信息娛樂(lè), 動(dòng)力系統(tǒng)等, 幾乎無(wú)處不在.
微控制器 MCU 芯片需要進(jìn)行溫度測(cè)試
通電測(cè)試時(shí), 單一芯片需要在模擬環(huán)境下, 也就是不同的溫度下, 測(cè)試不同的參數(shù), 驗(yàn)證是否滿(mǎn)足設(shè)計(jì)的功能性, 比如通過(guò)高低溫測(cè)試機(jī)模擬溫度 80℃, 監(jiān)測(cè)運(yùn)行多個(gè)參數(shù).
芯片進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí), 除了連接高低溫測(cè)試機(jī)外, 同時(shí)連接一些線纜接到專(zhuān)門(mén)的信號(hào)檢測(cè)儀器上, 查看在特定溫度下 -40℃ 至 160℃ 芯片的功能, 比如運(yùn)行頻率,功耗等. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)的主要作用就是快速提供需要的模擬環(huán)境溫度, 解決了因?yàn)榄h(huán)境受限的芯片高低溫測(cè)試難題.
針對(duì)客戶(hù)提出的測(cè)試要求, 上海伯東提供微控制器 MCU 芯片高低溫測(cè)試解決方案
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推薦選用美國(guó) intest Thermostream 熱流儀 ATS -545 可滿(mǎn)足客戶(hù)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)條件.
1. ATS-545 可提供 -75 to +225°C (50Hz) 的測(cè)試溫度
能夠提供有效的均勻的吹掃氣流垂直的吹到客戶(hù)所需要的元器件的表面, 4 to 18scfm 風(fēng)速供客戶(hù)根據(jù)不同要求提供選擇
2. 提供標(biāo)準(zhǔn)配件, 接受客戶(hù)定制, 滿(mǎn)足不同測(cè)試的元器件所需要的適當(dāng)尺寸
3. 在溫度點(diǎn)之間的跳躍, 更快的速度實(shí)現(xiàn)切換, 變溫速率 -55至 +125°C <10 s, 溫度精度 ±0.1℃, 可以做 12組不同形式的循環(huán)溫度設(shè)定.
4. 并且以上操作不影響其他非測(cè)試元器件. 保證客戶(hù)的單向分析
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